Основы технологии СБИС

В книге известного японского ученого рассмотрены методы электронно-лучевой, фото- и рентгеновской литографии, применяемые при изготовлении сверхбольших интегральных схем. Дана классификация различных типов дефектов, методов их диагностики и путей совершенствования используемых материалов.

Автор Таруи Я.
Издательство Радио и Связь
Год издания 1985
Возрастное ограничение 12+
Объем (стр) 480
Переплет Твердый
Состояние Хорошее
Перед публикацией отзывы проходят модерацию